Глубокое травление Si при комнатной температуре (Bosch-процесс)

Глубокое травление Si при комнатной температуре (Bosch-процесс)

Bosch-процесс травления кремния на глубину 100 мкм.



Оборудование:

PlasmaPro100
PlasmaProEstrelas

Особенности технологии:

  • Реактивное ионное травление с применением источника индуктивно-связанной плазмы;
  • Bosch процесс при комнатной температуре;
  • Гелиевый поддув под подложку.
    icp_r_ww.gif

Результаты:

  • скорость травления 10 мкм/мин;
  • равномерность: < +/- 2% (по 100 мм пластине) и +/- 3% (по 150 мм пластине);
  • аспектное соотношение 30:1;
  • контролируемый угол наклона стенки;
  • высокая селективность к фоторезисту (>75:1) и к SiO2 (>150:1).

Примеры Bosch-процессов глубокого травления Si, проведенных в лаборатории OIPT:

SEM SEM SEM
глубина ​травления 100 мкм ​глубина травления 80 мкм ​глубина травления 75 мкм