Плазмостимулируемое атомно-слоевое осаждение нитрида ниобия (NbN) для электродов затвора

Плазмостимулируемое атомно-слоевое осаждение нитрида ниобия (NbN) для электродов затвора, описание процесса и оборудование

Скорость осаждения и равномерность (по 150 мм пластине) в зависимости от времени воздействия прекурсора (TBTMEN).

Производитель: Oxford Instruments Plasma Technology


n2%2004.gif
Зависимость скорости осаждения и удельного сопротивления от рабочего давления. Понижение рабочего давления дает уменьшение удельного сопротивления.

n2%2003.gif
Зависимость скорости осаждения и удельного сопротивления от времени горения плазмы.
По графику можно сделать выбор в пользу времени горения разряда - 30 с. Увеличения времени не изменит скорость осаждения, но может улучшить качество пленок NbN.

8c46768c4cfcd735b44bb276b637f073.gif
Иллюстрация равномерности толщины и поверхностного сопротивления пленок NbN по 150 мм пластине (Пленка осаждалась за 450 циклов при Р=8,5 мТорр).

27c49d6458619bdfe318e297ec763c12.gif
Зависимость скорости осаждения и удельного сопротивления от температуры осаждения.
Скорость осаждения не зависит от температуры, т.к. при 350 оС процесс плазмохимического осаждения(CVD) еще не идет.

n2%2005.gif
Зависимость удельного сопротивления,состава пленки и скорости осаждения от концентрации азота и водорода (состав пленки изучен рентгеновской фотоэмиссионной спектроскопией).
Метод плазмостимулированного атомно-слоевого осаждения (PEALD) нитрида ниобия часто сравнивают с химическим осаждением из паров металлоорганических соединений (MOCVD). Пленки, выращенные методом PEALD, обеспечивают более высокое качество поверхности (низкое плотность дефектов и шероховатость) и значительно более низкую температуры осаждения.

Технологические особенности и результаты:

  • Металлический прекурсор: TBTMEN;
  • Метод доставки прекурсора: барботирование с аргоном;
  • Неметаллический прекурсор: H2/N2 плазма;
  • Скорость осаждения: 0,65 А/цикл --> 0.2-0.6 нм/мин --> 12-36 нм/час;
  • Время цикла: 20-60 с.

Преимущества использования источника удаленной плазмы:

  • При использовании удаленной плазмы отсутствует контакт между подложкой и разрядом;
  • Плазма разбивает молекулы и активирует получившиеся радикалы, которые полезны для процесса роста пленки;
  • Активные радикалы очищают подложку от примесей, приводят к более чистым осаждающимся покрытиям и снижают температуру процесса.

В системах OIPT процесс ALD может быть выполнен с использованием:

  • только термического механизма;
  • ассистирования озоном;
  • ассистирования удаленной плазмой без изменения конфигурации оборудования.

Многошаговый процесс с использованием всех этих технологий может быть применен в случае необходимости.