Skip

R-Axis RAPID II



Прибор с цилиндрическим детектором с широкой апертурой- полный массив данных при намного меньшем количестве снимков.

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

Система R-Axis RAPID II компании Rigaku Oxford Diffration построена на базе цилиндрического детектора с широкой апертурой. Изогнутая конструкция обусловливает большую эффективность сбора данных. Действительно, в отличие от менее мощных CCD- или HPAD- детекторов вам нужно значительно меньшее количество снимков для получения полного массива данных. Плюсом системы является то, что она совместима с любыми источниками рентгеновского излучения- от отпаянных рентгеновских трубок до микрофокусных источников и генераторов с вращающимся анодом- значит, Вы сможете подобрать именно те параметры системы, которые необходимы для работы.

Преимущества системы R-Axis RAPID II:

  • Детектор с широкой апертурой способен фиксировать до 204 градусов на одном снимке
  • Расширенный динамический диапазон и низкий шум дают возможность большей выдержки. Это означает также возможность одновременного измерения слабых и сильных отражений без повторного сканирования
  • Сокращение количества снимков снижает количество ошибок при пересчёте
  • Возможность настроить прибор так, как Вам это нужно, благодаря совместимости со всеми источниками рентгеновского излучения компании Rigaku Oxford Diffraction
  • Возможность измерять порошковые дифрактограммы и диффузное рассеяние, не ограничиваясь работой с монокристаллами
  • Упрощённая юстировка
  • Надёжность и простота эксплуатации - подавляюще большую часть операций по техническому обслуживанию можно выполнить на месте

Благодаря широким возможностям настройки, система R-Axis RAPID II отлично справляется как с исследованиями монокристаллов, так и измерением порошковых дифрактограмм и диффузного рассеяния.

Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыт Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером.Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, ее размеры и форму, координаты позиций атомов, степень заселённости этих позиций, и некоторые специфические свойства тех или иных групп атомов в элементарной ячейке. Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны.